1. Electrical overstress (EOS) :
پدیدآورنده : Steven H. Voldman
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Overvoltage.,Semiconductors-- Failures.,Semiconductors-- Protection.,Transients (Electricity)
رده :
TK7871
.
852
2. Electromigration and electronic device degradation
پدیدآورنده : edited by Aris Christou
موضوع : Integrated circuits - Deterioration,Semiconductors - Failures,Electrodiffusion
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
3. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
4. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
5. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده : Amerasekera, E.A.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Failures ، Semiconductors
رده :
TK
7871
.
85
.
A49
1987
6. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده : Amerasekera, E. A.
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، Semiconductors - Failures
رده :
TK
7871
.
852
.
A47
1997
7. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده : Amerasekera, E. A
موضوع : ، Semiconductors-- Failures
۴ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
8. Failure modes and mechanisms in electronic packages
پدیدآورنده : Viswnadham, Puligandla
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Electrical packaging-- Defects,، Semiconductors-- Failures
رده :
TK
7870
.
15
.
V57
1997
9. Failure modes and mechanisms in electronic packages
پدیدآورنده : Viswanadham, Puligandla.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Defects ، Electronic packaging,Failures ، Semiconductors
رده :
TK
7870
.
15
.
V57
1998
10. Integrated circuit failure analysis: a guide to preparation techniques
پدیدآورنده : Beck, Friedrich
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Semiconductors- Failures,، Semiconductors_ Testing
رده :
TK
7871
.
852
.
B43
11. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده : Osamu Ueda
موضوع : Gallium aresnide semiconductors - Reliability,Semiconductors - Failures,Light emitting diodes - Reliability,Crystals - Defects
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
12. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده : Ueda, Osamu
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Gallium arsenide semiconductors - Reliability , Semiconductors - Failures , Light emitting diodes - Reliability , Crystals - Defects
رده :
TK
7871
.
85
.
U33
1996
13. #Semiconductor device and failue analysis
پدیدآورنده : #Wai Kin Chim
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع : Semiconductors- Failures ،Semiconductors- Testing ،Semiconductors- Microscopy ،Photon emission
رده :
#
TK
،#.
C47
14. Semiconductor device and failure analysis using photon microscopy
پدیدآورنده : / by Wai Kin Chim
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors- Failures,Semiconductors- Testing,Semiconductors- Microscopy,Photon emission
رده :
TK7871
.
85
.
C47
2000
15. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
پدیدآورنده : / B.P. Richards and P.K. Footner
کتابخانه: المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك (مرکزي)
موضوع : Semiconductors-- Testings,Semiconductors- Failures,Microscops and microscopy
رده :
621
.
381520287
R514r
16. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
پدیدآورنده : Richards, B. P.
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Semiconductors - Testing , Semiconductors - Failures , Microscopes
رده :
TK
7871
.
85
.
R464
